半導(dǎo)體測試PCB板是連接測試設(shè)備與待測試半導(dǎo)體芯片(如IC、晶圓)的專用“中間橋梁”,核心作用是模擬芯片工作環(huán)境,實(shí)現(xiàn)信號傳輸、精準(zhǔn)供電與數(shù)據(jù)采集,最終檢測芯片性能、功能及可靠性。
立即計(jì)價(jià)高厚徑比 厚金工藝 多層架構(gòu),筑牢測試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)防線
層數(shù):16層
板厚:6.5mm±0.3mm
最小孔徑機(jī)械孔徑 0.2 毫米
最小軌道/間距:250/250um
最小板材厚度和孔比:14:1
材料:S1000-2M
表面處理:浸金(ENIG)0.05um
層數(shù):8層
厚度:4.4±0.4mm
最小孔徑:激光孔徑0.127mm;機(jī)械孔徑0.3mm
最小軌道/間距:127/85um
最小板材厚度和孔比:15:1
材料:S1000-2M
表面處理:浸金(ENIG)0.050.05um
特征:4次激光鉆孔,5次壓制,4階HDI板
層數(shù):28層
材料:生益S1000-2M
板厚:4.0mm
表面處理:鍍金
外層線寬/線距:6/5mil
小孔徑:0.4mm
阻焊字符顏色:藍(lán)色
層數(shù):8層
厚度:4.4±0.4mm
最小孔徑:激光孔徑0.127mm;機(jī)械孔徑0.3mm
最小軌道/間距:127/85um
最小板材厚度和孔比:15:1
材料:S1000-2M
表面處理:浸金(ENIG)0.050.05um
特征:4次激光鉆孔,5次壓制,4階HDI板
適配多封裝 信號零干擾 全場景覆蓋,賦能芯片高質(zhì)量量產(chǎn)
定制探針 / 測試座接口,兼容多封裝芯片與標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)備,無需重復(fù)開發(fā)。
阻抗匹配 + 等長布線設(shè)計(jì),高頻場景下信號無干擾,測試數(shù)據(jù)零誤差。
支持高低溫、高壓等極端環(huán)境模擬,滿足研發(fā)、量產(chǎn)、可靠性全階段測試。
多工位設(shè)計(jì)適配自動化檢測,耐受高頻插拔,提升測試效率并降低維護(hù)成本。
如手機(jī) SoC、存儲芯片(DDR)、傳感器芯片(攝像頭 CMOS)
如車規(guī)級 MCU、功率芯片(IGBT)、雷達(dá)芯片
如PLC控制器芯片、變頻器芯片、工業(yè)傳感器芯片
如衛(wèi)星通信芯片、MRI設(shè)備專用芯片
高精密設(shè)備,造就高品質(zhì)產(chǎn)品
采用六軸直線電機(jī)驅(qū)動; 主軸轉(zhuǎn)速:200krpm/160krpm; 鉆孔精度:±0.02mn; 用于多層板導(dǎo)電圖形層之間的導(dǎo)通孔的鉆孔
CCD攝像頭定位,分辨率達(dá)5μm,100%測試功能性開短路,漏測率為0,確保每一片出貨都是良品
大功率曝光光源設(shè)計(jì),高精度成像和定位系統(tǒng),用于導(dǎo)電圖形轉(zhuǎn)移時(shí)的圖形曝光成像;對位和成像精度高至±10μm,更高平行景深,更高的生產(chǎn)性參數(shù)和更高的質(zhì)量
采用先進(jìn)的批量自動測試機(jī),實(shí)現(xiàn)自動化上下料,自動分辨合格與不合格電路板,并且具備光幕保護(hù),確保操作安全
全流程質(zhì)控體系,讓每一件產(chǎn)品都帶著安心

采用 ISO 9001、IATF 16949、ISO 13485 等國際認(rèn)證體系,生產(chǎn)車間達(dá)到萬級潔凈標(biāo)準(zhǔn),確保產(chǎn)品一致性與穩(wěn)定性

