手機無線充電 PCB 線圈參數(shù)適配優(yōu)化方案
來源:捷配
時間: 2025/11/27 09:50:04
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1. 引言
隨著 Qi2 無線充電標準普及(支持 15W 快充),手機無線充電 PCB 的線圈匹配成為效率核心 —— 行業(yè)數(shù)據(jù)顯示,線圈阻抗失配會導致充電效率下降 20% 以上,某手機廠商曾因線圈線寬設(shè)計不合理,無線充電效率僅 68%,低于行業(yè)平均水平(80%),市場反饋差評率超 12%。無線充電 PCB 需符合IEC 61980-1(無線電力傳輸標準)第 5.2 條款,線圈等效阻抗需控制在 10Ω±1Ω。捷配深耕消費電子無線充電 PCB 領(lǐng)域 6 年,累計交付 200 萬 + 片手機無線充電 PCB,效率均穩(wěn)定在 85% 以上,本文拆解線圈匹配核心原理、參數(shù)設(shè)計及驗證方法,助力企業(yè)提升無線充電效率。
2. 核心技術(shù)解析
手機無線充電 PCB 線圈匹配的核心是 “電磁耦合效率最大化”,需滿足Qi2 1.3 標準對線圈阻抗、線寬、間距的要求,核心關(guān)聯(lián)三大技術(shù)參數(shù):
一是線圈線寬與匝數(shù),15W 無線充電線圈常用線寬 0.4mm~0.6mm,匝數(shù) 10~12 圈,線寬每偏差 0.1mm,耦合效率波動 3%—— 捷配實驗室測試顯示,線寬 0.5mm+11 匝線圈的耦合效率最優(yōu)(88%);二是線圈間距,發(fā)射端與接收端線圈中心間距需≤0.3mm,間距超 0.5mm 時,效率下降 10%,符合GB/T 35590(無線充電設(shè)備安全標準)第 4.3 條款;三是基材介電常數(shù),無線充電 PCB 需選用低損耗基材,生益 S2116(介電常數(shù) 4.2±0.1,損耗因子 0.002@1MHz)可降低電磁能量損耗,遠優(yōu)于普通 FR-4(損耗因子 0.01)。
此外,線圈等效阻抗需匹配電源管理芯片(如 TI BQ51051),按IEC 61980-2 要求,線圈串聯(lián)電阻需≤0.5Ω,電感值控制在 10μH±0.5μH,阻抗失配會導致能量反射,效率大幅下降。捷配 HyperLynx 仿真驗證,基于生益 S2116 的線圈設(shè)計,線寬 0.5mm + 匝數(shù) 11 圈 + 間距 0.2mm 時,等效阻抗 10.2Ω,效率達 89%。
3. 實操方案
3.1 線圈匹配三步設(shè)計(操作要點 + 數(shù)據(jù)標準 + 工具 / 材料)
- 參數(shù)計算:根據(jù) Qi2 標準,15W 無線充電線圈電感值目標 10μH,用線圈計算工具(JPE-Coil 3.0)輸入?yún)?shù) —— 線寬 0.5mm、匝數(shù) 11 圈、線圈外徑 25mm,生成初始設(shè)計方案,確保符合IEC 61980-1 電感公差要求(±5%);
- 基材選型:優(yōu)先選用生益 S2116基材(厚度 0.8mm,介電常數(shù) 4.2±0.1),線圈區(qū)域銅厚≥2oz(70μm),降低串聯(lián)電阻,用激光測厚儀(JPE-Laser-600)測試銅厚,偏差≤±5μm;
- 阻抗匹配:線圈兩端并聯(lián) 100pFNP0 電容(村田 GRM188R71H101KA01),調(diào)整電容值使等效阻抗在 10Ω±1Ω,用阻抗分析儀(JPE-Imp-600)測試,頻率 100kHz 時阻抗偏差≤5%。
3.2 量產(chǎn)優(yōu)化與檢測
- 線圈蝕刻管控:采用半蝕刻工藝,線圈線寬精度控制在 ±0.02mm,蝕刻因子≥3:1,按IPC-TM-650 2.3.17 標準測試,每批次抽檢 50 片,線寬超差率≤1%;
- 效率測試:每批次首件用無線充電效率測試儀(JPE-Charge-800)測試,輸入 5V/3A 時,輸出功率≥13.5W(效率≥90%),符合 Qi2 快充要求;
- 一致性管控:捷配 SMT 產(chǎn)線采用視覺定位系統(tǒng)(精度 ±0.01mm),確保線圈與磁芯對齊,對齊偏差≤0.1mm,避免耦合效率下降。
手機無線充電 PCB 線圈匹配需以 Qi2 標準為基準,聚焦線寬、匝數(shù)、阻抗三大核心參數(shù),核心是降低線圈損耗與阻抗失配。捷配可提供 “線圈設(shè)計 - 打樣 - 量產(chǎn) - 認證” 一體化服務(wù):其線圈仿真工具(JPE-Coil 3.0)可快速生成最優(yōu)參數(shù),DFM 預審系統(tǒng)規(guī)避蝕刻偏差風險,實驗室可提供 Qi2 認證預測試報告。


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